LEADERSoluzione di monitoraggio termico SWIR- Riduzione delle perdite dovute a guasti termici dei semiconduttori di potenza
I semiconduttori di potenza (come IGBT e MOSFET) sono i componenti principali diveicoli a nuova energia, convertitori industriali e inverter fotovoltaicie la loro affidabilità termica determina direttamente la durata e la sicurezza dei prodotti finali. Durante l'intero processo di test di ricerca e sviluppo, ispezione della produzione di massa e applicazione dei terminali, i problemi di perdita causati da guasti termici affliggono da tempo il settore: i metodi tradizionali di rilevamento dei contatti (ad esempio, termocoppie) graffiano e danneggiano facilmente i dispositivi con un solo-punto di campionamento; le normali apparecchiature a infrarossi hanno una risposta ritardata, non riuscendo a catturare gli hotspot transitori e portando al mancato rilevamento di potenziali rischi, causando infine la rottamazione dei campioni di ricerca e sviluppo, la rilavorazione della produzione di massa e le riparazioni post-vendita dei terminali.
Mirando a questi punti critici, la soluzione LEADIR crea un sistema completo di monitoraggio termico e riduzione delle perditeTelecamere a onde corte-SWIRcome nucleo, con i vantaggi tecnici disenza-contatto, acquisizione completa, alta precisione e stabilità-di livello industriale, ottenendo una riduzione delle perdite dovute a guasti termici dell'intero processo-per i semiconduttori di potenza.
Soluzione tecnica fondamentale
Monitoraggio non-di contatto e non{{1}distruttivo
Non è necessario entrare in contatto con la superficie del chip, evitando danni fisici derivanti da metodi di rilevamento basati sul contatto-come sonde e termocoppie, adatti per test su campioni di ricerca e sviluppo, ispezione della linea di produzione online e ispezione casuale delle apparecchiature terminali, riducendo inutili perdite nella fase di rilevamento.
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Visualizzazione-in tempo reale della distribuzione-termica completa
Presenta chiaramente le differenze di temperatura in aree chiave come il nucleo del chip, l'alloggiamento dell'imballaggio e i giunti di saldatura dei perni, eliminando completamente il "monitoraggio dei punti ciechi" per la concentrazione del calore e consentendo l'identificazione precoce di potenziali rischi di guasto termico.
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Cattura accurata degli hotspot transitori
Dotato diFrequenza fotogrammi elevata di 200 fpstecnologia di imaging e velocità di risposta a livello di millisecondi-, congela accuratamente fenomeni termici dinamici come temperature elevate di impulsi a livello di millisecondi-(150 gradi +) e picchi termici istantanei durante i processi di commutazione, eliminando i mancati rilevamenti di difetti termici transitori dalla sorgente e bloccando il burnout del dispositivo causato da un guasto termico.
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Analisi della temperatura ad alta-precisione
Con arisoluzione della temperatura di ±2 gradi, è in grado di distinguere con precisione piccoli gradienti di temperatura, fornendo supporto dati per l'ottimizzazione della struttura di dissipazione del calore del chip, la regolazione dei parametri del processo di produzione e la valutazione dell'affidabilità del prodotto, riducendo la probabilità di guasto termico nelle fasi di progettazione e produzione.
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Adattamento stabile di livello industriale-
La telecamera SWIR presenta un design a basso consumo energetico (inferiore o uguale a 9 W) per una facile integrazione nei banchi prova di produzione di massa,Ampia compatibilità di tensione 10 V-30 Vper abbinare sistemi di alimentazione di diverse linee di produzione di marca e un ampio intervallo di temperature di funzionamento-40 gradi ~70 gradi, adattandosi a scenari industriali complessi come alta temperatura e alta umidità per garantire la stabilità del monitoraggio.
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Valore di riduzione delle perdite dei clienti principali
Riduzione delle perdite di fase di ricerca e sviluppo
Evita efficacemente la rottamazione dei campioni causata da danni al rilevamento e guasti termici, riducendo significativamente il tasso di perdita dei campioni di ricerca e sviluppo e risparmiando ogni anno molti costi dei materiali di ricerca e sviluppo; ottimizzazione della progettazione del prodotto con dati termici accurati per abbreviare notevolmente il ciclo di ricerca e sviluppo.
Riduzione delle perdite nella fase di produzione di massa
Screening efficiente dei dispositivi difettosi con distribuzione termica non uniforme online, riduzione significativa del tasso di rilavorazione della produzione di massa, taglio dei costi di rilavorazione per una singola linea di produzione ogni anno e miglioramento dell'efficienza produttiva e dell'utilizzo della capacità.
Terminale post-riduzione delle perdite nella fase di vendita
Miglioramento dell'affidabilità del prodotto attraverso il monitoraggio termico dell'intero processo-, riduzione drastica del tasso di riparazione dei guasti termici dei prodotti terminali e riduzione di varie perdite legate a compensi post-vendita, manutenzione e reputazione del marchio ogni anno.
Valore commerciale a lungo termine-
Riduzione notevole dei costi annuali complessivi legati alle perdite dei clienti dopo l'implementazione della soluzione, con notevoli risparmi cumulativi sui costi annuali; aiutando i clienti a migliorare costantemente i tassi di riacquisto e ad entrare con successo nella fascia alta-nuove energie, controllo industriale e inverter fotovoltaicomercati con una qualità del prodotto stabile.
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